1. 課程簡介與緒論 (Introduction) (吳紀聖)

2. 原子力顯微儀(AFM) （陳立仁）
2.1 穿隧效應
2.2 穿隧效應之應用（掃描式穿隧顯微鏡學）
2.3 原子力顯微鏡(AFM)
基本概念介紹；定力操作模式與定高操作模式；儀器計測法（懸臂樑式探測法與壓電陶瓷）；接觸模式（Contact mode）與流動槽；輕叩模式（Tapping mode）。
2.4側力顯微鏡學(LFM)
2.5相差成像（phase imaging）
2.6實驗說明

3. 掃描式電子顯微鏡(SEM)分析：（許曉萍）
3.1 緒論
3.2 電子顯微鏡的分類及其功能
3.3 電子束與物質之作用
3.4 電子顯微鏡、光學顯微鏡及X光繞射儀之特性與功能比較
3.5 電子顯微鏡之機台構造
3.6電子顯微鏡照片之分析
3.7 實驗說明

4. X射線光電子光譜（XPS）與螺旋電子光譜（Auger）進行表面分析：（戴子安）
4.1表面分析簡介：
表面的定義；表面敏度；儀器計測法。
4.2 X射線光電子光譜學：
X射線誘導光電子；結合能與化學轉移；光譜特徵。
4.3 螺旋電子光譜學：
電子之螺旋程序；深度剖面解析
4.4 實驗說明

5. 結晶性薄膜製備與分析 (Fabrication and Characterization of Crystalline Thin Films)：（康敦彥）
5.1結晶性薄膜簡介：
結晶性有機薄膜與無機薄膜之常見製備手法與應用
5.2晶體繞射與散射簡介：
簡介結晶學術語與繞射、散射之基本概念
5.3薄膜掠角散射簡介：
以掠角散射分析薄膜之結晶性與晶體方向性
5.4各國同步輻射設施簡介
簡介各國同步輻射實驗室
5.5實驗說明

6. FTIR分析應用與圖樣化薄膜製備 (廖英志)
 6.1 FTIR原理
 6.2 FTIR儀器簡介
 6.3 FTIR分析與應用
 6.4大面積薄膜製備: 刮刀塗布、狹縫式塗佈、旋轉塗佈
 6.6圖樣化薄膜: 網印、滾印及噴墨塗布
 6.7圖樣化薄膜之應用

7. X光與中子反射及同步輻射掠角X光散射在薄膜層狀及奈米結構的解析應用(鄭有舜)
7.1 X光與中子反射之薄膜層狀結構分析
7.2 掠角小角度X光散射之薄膜奈米結構分析
7.3 同步輻射掠角小角/廣角度X光散射儀器應用介紹

8. 表面電漿共振 (SPR)： （王勝仕）
8.1簡介
表面電漿共振之原理、表面電漿共
振之配置
8.2生物分子間之交互作用
基本定義及原理介紹、結合常數之性質與決定
8.3應用表面電漿共振於生物分子間之交互作用
8.4表面電漿共振數據分析
8.5研究相關範例
8.6 實驗說明

9. X光繞射分析（XRD）： （吳紀聖）
9.1 X光繞射原理 ：
9.2 X光繞射晶相分析
9.3 X光繞射晶向與晶粒尺寸分析
9.4研究範例
9.5實驗說明

10. 期中考 4/27/2017
11. X光繞射薄膜晶相分析實驗
12. 薄膜之製作實驗
13. 原子力顯微儀
14. 以XPS與Auger進行表面分析實驗
15. 掃描式電子顯微鏡(SEM)分析實驗
16. 表面電漿共振實驗
17. 期末考 6/22/2017